仪器仪表
辰纳川 A3-SR-100反射式膜厚测量仪
2024-06-29 16:05  浏览:0
   A3-SR-100反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR-100可用于测量10纳米到100微米的膜厚,测量精度达到0.1纳米。在折射率未知的情况下,A3-SR-100还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外,A3-SR-100还可用于精确测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。
  A3-SR-100反射式膜厚测量仪进行测量简单可靠,实际测量采样时间低于1秒。配合我们的Apris SpectraSys软件进行手动测量,每次测量时间低于1秒。Apris SpectraSys支持20层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时支持函数型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光学(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett,Bruggeman)EMA等折射率模型。同时,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。
  配手持式探头,A3-SR-100可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um,只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um。
  A3-SR-100系统参数:
  1.产品尺寸:W270*D217*(H90+H140)mm
  2.测试方式:可见VIS反射(R)
  3.波长范围:380nm-1050 nm
  4.光源:进口钨卤素灯寿命10000小时
  5.光路和传感器:光纤式(FILBER,进口)+进口光谱仪
  6.入射角:0度(垂直入射)(0 DEGREE)
  7.参考光样品:硅片
  8.光斑大小:about 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)
  9.样品大小:10 mm TO 300 mm(可以根据用户要求配置)
  10.测试方式:反射
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