长久以来，X射线吸收精细结构谱(XAFS)只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配"，致使越来越多课题组需要XAFS测试。

X射线吸收精细结构谱RapidXAFS具有如下特点:

最高光通量产品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量

优异的稳定性

光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移<50 meV

1%探测极限

高光通量、优异的光路优化和较好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据

仪器原理

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

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