机械设备
扫描电子显微镜sem
2024-06-28 16:20  浏览:3
价格:未填
发货:3天内
发送询价
 
 
 
  德国蔡司场发射扫描电子显微镜sem产品介绍:
  灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能
  将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的Gemini电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。
  Sigma 300性价比高。Sigma 500装配有yi流的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
  纤维,在伤口护理中敷的抗菌药
  ▲用于清晰成像的灵活探测
  利用*探测术为您的需求定制Sigma,表征所有样品。
  利用in-lens双探测器获取形貌和成份信息。
  利用新一代的二次探测器,获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用Sigma创新的C2D和可变压力探测器,在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
  Sigma的4步工作流程节省大量的时间
  ▲自动化加速工作流程
  4步工作流程让您控制Sigma的所有功能。在多用户环境中,从快速成像和节省培训首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
  首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
  接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步,将结果可视化。
  ▲高级分析型显微镜
  德国蔡司场发射扫描电子显微镜sem将扫描电子显微镜与基本分析相结合:Sigma yi流的背散射几何探测器大大提升了分析性能,特别是对电子束敏感的样品。
  在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
  获益于8.5 mm短的分析工作距离和35°夹角,获取完整且无阴影的分析结果。
  配件:
  ▲SmartEDX
  为您带来一体化能谱分析解决方案
  单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品,研究人员就需要在SEM中采用能谱仪(EDS)来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案,您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于:
  优化了常规的显微分析应用,并且由于氮化硅窗口优秀的透过率,可以探测轻元素的低能X射线。
  工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性,以及多用户环境中的重复性。完整的服务和系统支持,由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。
  ▲拉曼成像与扫描电镜联用系统
  *集成化的拉曼成像
  在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果,获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300,使其具备共聚焦拉曼成像功能,您能够获得样品中化学指纹信息,从而指认其成分。
  识别分子和晶体结构信息
  可进行3D分析,在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据。
  *集成RISE让您体验由*SEM和拉曼系统带来的优势。
http://www.huaputy.com/Products-36804874.html
https://www.chem17.com/st288905/product_36804874.html
联系方式
发表评论
0评